研究課題/領域番号 |
24592844
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
病態科学系歯学・歯科放射線学
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研究機関 | 日本大学 |
研究代表者 |
金田 隆 日本大学, 松戸歯学部, 教授 (40185947)
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研究分担者 |
小椋 一朗 日本歯科大学, 新潟生命歯学部, 准教授 (30349972)
岡田 裕之 日本大学, 松戸歯学部, 教授 (70256890)
森 進太郎 日本大学, 松戸歯学部, 講師 (40419792)
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研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2016-03-31
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研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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配分額 *注記 |
5,200千円 (直接経費: 4,000千円、間接経費: 1,200千円)
2015年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2014年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2013年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2012年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
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キーワード | パラメトリックX線 / 位相コントラストイメージング / X線吸収端 / 画像診断 / 医療応用 / パラメトリックエックス線 / パラメトリックX線 |
研究成果の概要 |
本研究の目的は新しい位相の整ったパラメトリックX線の画像診断への臨床応用の基盤的な研究を行なうことである。 がん検体や造影剤を用いた実験より,パラメトリックエックス線は,従来の白色エックス線源と比較して,腫瘍組織や軟組織等の観察に適していた。パラメトリックエックス線は,新規分子イメージングの可能性と従来のエックス線源と異なる画像が得られ,画像診断への臨床応用への有用性が示唆された。
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