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組み込み型電圧変動センサを用いた動的電流テスト法に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 24650021
研究種目

挑戦的萌芽研究

配分区分補助金
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関徳島大学

研究代表者

橋爪 正樹  徳島大学, ソシオテクノサイエンス研究部, 教授 (40164777)

研究期間 (年度) 2012-04-01 – 2014-03-31
研究課題ステータス 完了 (2013年度)
配分額 *注記
2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
2013年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2012年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
キーワード断線 / 電流テスト / IC / IDDTテスト / 電流センサ回路 / 遅延故障 / CMOS / 動的電源電流 / 動的電源電圧変動 / 短絡 / CMOS IC
研究概要

本研究はIC製造時に発生した欠陥を電源からICに供給される電源電流の異常で発見し,ICの高信頼化の実現を目指すものである。本研究では電源電流の中でも検査入力印加直後のみに現れる動的電源電流の出現時間の異常で検査するためのIC内組み込み型検査回路,ならびにその検査回路を用いた検査法を開発した。またその回路を組み込んだICを設計・試作し,実験によりIC内の断線検出が可能であることを確認した。

報告書

(3件)
  • 2013 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2012 実施状況報告書
  • 研究成果

    (8件)

すべて 2014 2013 2012 その他

すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 4件) 学会発表 (4件)

  • [雑誌論文] A Built-in Test Circuit for Detecting Open Defects by IDDT Appearance Time in CMOS ICs2014

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Shohei Suenaga and Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 雑誌名

      Proc. of International Conference on Design & Concurrent Engineering 2014

      巻: (to appear)

    • 関連する報告書
      2013 実績報告書 2013 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Built-in IDDT Appearance Time Sensor for Detecting Open Faults in 3D IC2013

    • 著者名/発表者名
      Shohei Suenaga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tetsuo Tada and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan(ICSJ2013)

      ページ: 247-250

    • 関連する報告書
      2013 実績報告書 2013 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs2012

    • 著者名/発表者名
      Shohei Suenaga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of 2012 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

    • 関連する報告書
      2013 研究成果報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs2012

    • 著者名/発表者名
      Shohei Suenaga, et al.
    • 雑誌名

      Proc. of 2012 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: E

    • 関連する報告書
      2012 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計2013

    • 著者名/発表者名
      末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      徳島大学, 徳島県
    • 年月日
      2013-09-21
    • 関連する報告書
      2013 研究成果報告書
  • [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計2013

    • 著者名/発表者名
      末永 翔平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島大学)
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路による断線故障の検出のための必要条件2012

    • 著者名/発表者名
      末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      四国電力株式会社総合研修所, 香川県
    • 年月日
      2012-09-29
    • 関連する報告書
      2013 研究成果報告書
  • [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路による断線故障の検出のための必要条件

    • 著者名/発表者名
      末永 翔平他
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      四国電力総合研修所(香川県)
    • 関連する報告書
      2012 実施状況報告書

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公開日: 2013-05-31   更新日: 2019-07-29  

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