研究課題/領域番号 |
24651110
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研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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配分区分 | 補助金 |
研究分野 |
量子ビーム科学
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研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
研究代表者 |
小川 博嗣 独立行政法人産業技術総合研究所, 計測フロンティア研究部門, 主任研究員 (60356699)
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研究分担者 |
木野村 淳 (独)産業技術総合研究所, 計測フロンティア 研究部門, 上級主任研究員 (90225011)
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連携研究者 |
鈴木 良一 (独)産業技術総合研究所, 計測フロンティア 研究部門, 上席研究員 (80357300)
大島 永康 (独)産業技術総合研究所, 計測フロンティア 研究部門, 主任研究員 (00391889)
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研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2014-03-31
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研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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配分額 *注記 |
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2013年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2012年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
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キーワード | 陽電子 / 顕微鏡 / 格子欠陥 / 放射線、X線、粒子線 |
研究概要 |
電子線形加速器による高強度陽電子ビームを用いた再放出型の陽電子顕微鏡(PRM)の開発を行った。光電子顕微鏡の静電レンズ系を用いてPRMを構築するとともに、電子線形加速器で生成した低速陽電子ビームをPRMに適用するため、磁場終端デバイスを用いた陽電子ビーム集束システムを開発した。その結果、過去のPRM研究の方法と比較して、PRMへの陽電子入射ビーム強度を増大でき、PRMの画像取得時間を短縮できることを示した。
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