| 研究課題/領域番号 |
24651123
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
ナノ構造科学
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
田中 信夫 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 教授 (40126876)
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| 研究分担者 |
齋藤 晃 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 准教授 (50292280)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円)
2014年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2013年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2012年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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| キーワード | スピン偏極電子線の相互作用 / TEM / 磁性体薄膜 / マルチスライスシミュレーション / スピン偏極電子 / 低速電子顕微鏡 / スピン偏極電子銃 / 低速加速電子顕微鏡 / 散乱実験 / 低加速電子顕微鏡 |
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| 研究成果の概要 |
(1)スピン偏極した電子と試料との相互作用評価のため、ディラック方程式から始めスピン相互作用項を導出し、マルチスライス法に適した波動関数を求めた。結果、TEMの像コントラスト評価のシミュレーション中に相対論的スピン相互作用項を入れ込むことに成功。(2)短電子パルスを発生する2通りの方法を試みた。①音響光学素子と連続レーザーにより、25nsのパルス電子線を発生させ、その時間特性を調べた。②パルスレーザーを使って20psのパルス電子線を発生。このパルス巾精密測定のためストリークカメラ法を開発。(3)スピン反転による位相像差分を検出する方法も開発し、1.5rad以下の位相差の検出に成功。
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