| 研究課題/領域番号 |
24654078
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
素粒子・原子核・宇宙線・宇宙物理
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| 研究機関 | 公益財団法人佐賀県地域産業支援センター九州シンクロトロン光研究センター |
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研究代表者 |
高林 雄一 公益財団法人佐賀県地域産業支援センター九州シンクロトロン光研究センター, 加速器グループ, 副主任研究員 (50450953)
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| 研究分担者 |
隅谷 和嗣 九州シンクロトロン光研究センター, ビームライングループ, 副主任研究員 (10416381)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2014-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円)
2013年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2012年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
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| キーワード | パラメトリックX線 / 相対論的電子ビーム / 結晶 / ビームモニタ |
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| 研究概要 |
従来，リニアックの電子ビームのプロファイルモニタとして，可視遷移放射（OTR）が用いられてきた．しかし最近，X線自由電子レーザー用リニアックにおいて，OTRがコヒーレントになり，ビームのプロファイル測定に利用できないことが判明した．コヒーレントになることを避けるには，より波長の短い光を利用する必要がある．そこで，本研究では，パラメトリックX線（PXR）の利用を提案する．PXRを用いた測定法として，近接法，ピンホール法，フレネルゾーンプレート法という3つの手法を提案し，前者の2つに関して，原理の検証実験に成功した．さらに，残るフレネルゾーンプレート法に関する研究が進行中である．
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