| 研究課題/領域番号 |
24656218
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
電子・電気材料工学
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| 研究機関 | 早稲田大学 |
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研究代表者 |
大木 義路 早稲田大学, 理工学術院, 教授 (70103611)
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| 研究分担者 |
平井 直志 早稲田大学, 理工学術院, 講師 (30329122)
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| 連携研究者 |
福永 香 独立行政法人情報通信研究機構, 電磁波計測研究センター, 研究マネージャー (20358956)
水野 麻弥 独立行政法人情報通信研究機構, 電磁波計測研究センター, 研究員 (90360643)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2014-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2013年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2012年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
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| キーワード | 誘電体 / 高分子 / 広帯域分光 / テラヘルツ時間領域分光 / 複素誘電率 / 絶縁劣化 / 状態監視 |
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| 研究概要 |
24年度は、GHz帯での高分子絶縁フィルムの誘電特性評価に注力し、7つの高分子のシート状の試料について、複素誘電率スペクトルを測定した。この成果は電気学会論文誌に投稿した。25年度は、電力ケーブルの絶縁材料である架橋ポリエチレン（XLPE）が酸化劣化を受けたときに生じるテラヘルツ吸収ピークの挙動を実験的に明らかにするとともに、量子化学計算を行い、吸収ピークは、結晶格子の共鳴振動が酸化による構造変化に伴って光学的に活性になることが原因で生じることを明らかにした。成果は英文誌に投稿した。この他、ポリエチレンやEPゴムについて、THzイメージングによる絶縁劣化診断の可能性について精力的に研究した。
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