| 研究課題/領域番号 |
24659868
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
歯科医用工学・再生歯学
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| 研究機関 | 東京医科歯科大学 |
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研究代表者 |
宇尾 基弘 東京医科歯科大学, 医歯(薬)学総合研究科, 教授 (20242042)
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| 研究分担者 |
田中 諭 長岡技術科学大学, 工学部, 准教授 (20324006)
和田 敬広 東京医科歯科大学, 大学院医歯学総合研究科, 助教 (10632317)
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| 研究協力者 |
和田 健 大学共同利用機関法人, 高エネルギー加速器研究機構・物質構造科学研究所, 特別助教 (10401209)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円)
2014年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2013年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2012年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
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| キーワード | 歯科材料学 / ジルコニア / 微細構造 / 欠陥 |
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| 研究成果の概要 |
ジルコニア修復物の信頼性向上には内部欠陥や異物の状態を明らかにし、破壊機構との関連を明らかにすることが必要である。本研究ではX線、赤外線および陽電子など複数のプローブを用いて、ジルコニア内部の種々のレベルの欠陥を検出する方法について検討した。透過X線撮像およびマイクロX線CTでサブミリや数十ミクロンの空隙が見られ、赤外顕微鏡により焼結前顆粒の粒界と思われる微細空隙などが観察された。さらに陽電子対消滅寿命測定により僅かに原子レベルの欠陥も観測された。それら空隙・欠陥はジルコニアの組成や焼結法による差は見られなかった。
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