| 研究課題/領域番号 |
24700042
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
飯塚 哲也 東京大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (10552177)
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| 研究協力者 |
NGUYEN Ngoc Mai-Khanh 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 助教
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2013年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
2012年度: 2,340千円 (直接経費: 1,800千円、間接経費: 540千円)
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| キーワード | 電子デバイス・機器 / 集積回路 / 経年劣化 / NBTI / PUF ID / 時間-デジタル変換 / PUF |
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| 研究成果の概要 |
集積回路の製造ばらつきを固有の物理的特徴とみてIDとして利用するシリコンPUFと呼ばれる技術が注目されている。本研究では、集積回路上の微少な性能差の正確な検出のため、トランジスタの経年劣化効果の物理現象をモデル化し劣化シミュレーションの高速化を達成した。また、チップ上のランダムな性能ばらつきによって生じる微少な遅延差を検出・記憶し、その遅延差をデジタル信号に変換する新規回路を提案し、設計および実測による評価を行いその有効性を示した。さらに、外部に漏洩する磁界を高感度磁界プローブにより検出し、磁界マップから内部の回路動作の差異を推定し真贋判定のためのIDとして用いる方法についても検討を行った。
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