| 研究課題/領域番号 |
24760052
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
応用物理学一般
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| 研究機関 | 東北大学 |
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研究代表者 |
戸田 雅也 東北大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (40509890)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2014-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2013年度)
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| 配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2013年度: 520千円 (直接経費: 400千円、間接経費: 120千円)
2012年度: 4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
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| キーワード | 物理計測・制御 / 電子スピン / 磁気共鳴力顕微鏡 / ナノワイヤー / カンチレバー / 電子スピン共鳴 / ラジカル / カンチレバーセンサ / 高感度計測 |
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| 研究概要 |
微粒子磁石が先端に付けられたシリコン製ナノワイヤーカンチレバーセンサを作製し、双安定高分子材料を用いた磁気共鳴力顕微鏡(MRFM)を用いた評価を行った。カンチレバーの中央には変位計測に用いる干渉計のためのミラー部を設け、先端には直径3.5ミクロンのNdFeB粒子を取り付けた。酸化すると安定的にラジカルが分子内で保持される試料を MRFMシステム内で試料をXYZ走査させたときの高分子薄膜からの確かな磁気共鳴信号を計測でき、薄膜状のラジカルや欠陥など試料表面のイメージング評価に応用できることが示せた。
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