研究課題
若手研究(B)
低転位密度c面GaN局所キャリアダイナミクスを、時間空間同時分解カソードルミネッセンス測定によって評価した。前面入射型光電子銃の高光電子放出効率化により低加速電圧で表面下の欠陥構造評価が可能となった。 高分解能カソードルミネッセンス測定により反転領域界面近傍で、非輻射再結合チャネルの視覚化できるようなった。
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Applied Physics Letters
巻: vol. 8 ページ: 0421081-4
巻: 103 号: 5 ページ: 0521081-4
10.1063/1.4817297
巻: vol.101 ページ: 2121061-4