研究課題
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本研究では、アナログLSIテストにおけるテスト容易化設計手法BIST技術を扱う。アナログ信号の解析に関する研究を行い,テストするアナログ信号を統一評価できるディジタル信号に変換し、評価することを考える。アナログ回路の電圧値と電流値、周波数と位相を出力信号として、体系的に評価する手法を提案した。実際の試作チップの評価により、提案のアナログBISTによるテスト容易性を示した。
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すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 4件) 学会発表 (16件)
IEICE
巻: Vol.E96-A,No.12 ページ: 2475-2486
130003385300
巻: Vol.E96-A, No.12 ページ: 2487-2498
130003385301
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
巻: E96.A 号: 12 ページ: 2475-2486
10.1587/transfun.E96.A.2475
巻: E96.A 号: 12 ページ: 2487-2498
10.1587/transfun.E96.A.2487