| 研究課題/領域番号 |
24H00373
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
中区分26:材料工学およびその関連分野
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
石川 亮 東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 特任准教授 (20734156)
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| 研究分担者 |
川原 一晃 東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 助教 (90869570)
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| 研究期間 (年度) |
2024-04-01 – 2027-03-31
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| 研究課題ステータス |
交付 (2025年度)
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| 配分額 *注記 |
50,310千円 (直接経費: 38,700千円、間接経費: 11,610千円)
2025年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
2024年度: 42,640千円 (直接経費: 32,800千円、間接経費: 9,840千円)
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| キーワード | 3次元電子顕微鏡法 / 点欠陥 / 深さ断層法 / 格子欠陥 |
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| 研究開始時の研究の概要 |
本研究では，超収束角（>80 mrad）となる収差補正レンズの開発を行い，高い深さ分解能を有する走査透過型電子顕微鏡法を構築する．高い深さ分解能を有する電子顕微鏡と深さ断層法を融合し，物質中の３次元構造解析を実現することを目的とする．特に点欠陥や界面など，結晶特有の格子欠陥に注目し，直接観察が従来困難であった３次元構造を明らかにする．また、3次元再構成に必要な画像のノイズ処理法や数値解析および統計解析手法についても検討する。
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