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低ドーズオペランド電子線ホログラフィーによる有機EL発光/劣化メカニズムの可視化

研究課題

研究課題/領域番号 24H00423
研究種目

基盤研究(A)

配分区分補助金
応募区分一般
審査区分 中区分29:応用物理物性およびその関連分野
研究機関一般財団法人ファインセラミックスセンター

研究代表者

山本 和生  一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 主席研究員 (80466292)

研究分担者 佐々木 祐聖  一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 研究員 (00995160)
野村 優貴  一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 主任研究員 (60970126)
吉本 則之  岩手大学, 理工学部, 教授 (80250637)
研究期間 (年度) 2024-04-01 – 2028-03-31
研究課題ステータス 交付 (2025年度)
配分額 *注記
49,530千円 (直接経費: 38,100千円、間接経費: 11,430千円)
2025年度: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2024年度: 34,580千円 (直接経費: 26,600千円、間接経費: 7,980千円)
キーワード有機EL / 電子線ホログラフィー / 電子顕微鏡 / オペランド / 機械学習
研究開始時の研究の概要

有機ELは,隣接する有機分子間にエネルギー障壁があり,その結果,膜内部のキャリア輸送やバンド構造は複雑で,未だにその発光/劣化メカニズムは解明されていない.
本研究では,動作状態の有機EL内部の電位分布を,電子線ホログラフィーと情報科学的機械学習を用いてオペランド観察し,発光/劣化メカニズムを視覚的に明らかにする事が目的である.はじめに,p-n接合のみを持つ2層型有機ELのオペランド観察を成功させ,キャリア輸送等のメカニズムを明らかにする.次いで,発光層や電子/正孔注入層を加えた多層型有機ELの観察を行い,各層や界面の役割を可視化し,デバイスの発光/劣化メカニズムをナノスケールで解明する.

報告書

(1件)
  • 2024 審査結果の所見

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公開日: 2024-04-05   更新日: 2025-06-20  

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