「オールインワン」可搬型蛍光Ｘ線分析装置で開拓する文化財科学のフロンティア

• 研究課題/領域番号: 24K00159
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分03060:文化財科学関連; 小区分03070:博物館学関連; 合同審査対象区分:小区分03060:文化財科学関連、小区分03070:博物館学関連
• 研究機関: 東京電機大学
• 研究代表者: 阿部 善也 東京電機大学, 工学研究科, 助教 (90635864)
• 研究分担者: 村串 まどか 明治大学, 理工学部, 助教 (20868880) ; 四角 隆二 岡山大学, 文明動態学研究所, 客員研究員 (50974375) ; 高嶋 美穂 独立行政法人国立美術館国立西洋美術館, 学芸課, 特定研究員 (80443159)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2028-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 18,460千円 (直接経費: 14,200千円、間接経費: 4,260千円); 2027年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円); 2026年度: 3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円); 2025年度: 5,330千円 (直接経費: 4,100千円、間接経費: 1,230千円); 2024年度: 6,240千円 (直接経費: 4,800千円、間接経費: 1,440千円)
• キーワード: 蛍光X線分析 / オンサイト分析 / 文化財科学 / 装置開発 / MA-XRF

研究開始時の研究の概要

今日の文化財研究において，可搬型蛍光X線分析装置（P-XRF）によるその場（オンサイト）分析が普及しているが，世界的には蛍光X線によって大面積の元素分析を可視化する「Macro（MA）-XRF」と呼ばれる手法が新たなスタンダードとなっている。本研究では，研究機器の豊富な開発実績を持つ国内メーカと協力し，MA-XRF機能を備え，オンサイト分析のあらゆるシーンに対応可能な「オールインワン」型P-XRFを新規に開発する。文化財科学，考古学，保存科学を専門とする研究分担者と共に様々な文化財への応用を重ね，文化財研究におけるオンサイト分析のフロンティアを開拓する。