研究課題
基盤研究(B)
流体の固体境界表面におけるすべり現象は,バルクに対して相対的に表面の影響の重要性が増す分子/ナノ/マイクロスケールの流れ場において特に顕著となる.このすべり現象を理解するためには,境界近傍にて高い空間解像度を持つ局所的な流れ場の計測を行い,その結果を,分子流体の理論・数値解析の結果と比較検討し,分子流体力学の学理を深化させることが重要である.そこで本研究では,微小系の流れ場計測の超高解像度化を達成するため,トレーサーの光捕捉を援用することで流速計測位置を精密制御する光ピンセット流速計を新たに提案する.