双結晶と先端サブナノ計測技法を高度に連携させた電界誘起点欠陥の同定とその精密計測

• 研究課題/領域番号: 24K01156
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分26020:無機材料および物性関連
• 研究機関: 名古屋大学
• 研究代表者: 山本 剛久 名古屋大学, 工学研究科, 教授 (20220478)
• 研究分担者: 徳永 智春 名古屋大学, 工学研究科, 助教 (90467332)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 18,200千円 (直接経費: 14,000千円、間接経費: 4,200千円); 2026年度: 5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円); 2025年度: 9,230千円 (直接経費: 7,100千円、間接経費: 2,130千円); 2024年度: 3,900千円 (直接経費: 3,000千円、間接経費: 900千円)
• キーワード: 点欠陥 / 透過型電子顕微鏡 / 酸化物 / フラッシュ / 双結晶

研究開始時の研究の概要

セラミック圧粉体を臨界値以上の電界強度下で昇温すると、鋭い電力スパイクとともに発光するフラッシュ現象が現れる。このフラッシュ現象への理解を深めるために、単一粒界のみを有する双結晶の作製、TEM試料ホルダーへの搬入を効率よく行うための設備の作製を行う。超高分解能透過型電子顕微鏡を用いて、フラッシュ処理後の結晶粒界原子構造の直接計測を実施し、原子程度の大きさである点欠陥の直接同定、定量化を行う。原子構造のシミュレーション、第一原理計算などの援用のもとに、最終的にはフラッシュ現象が発現する機構解明に取り組む。