単分子組成分析および状態分析を可能にする電子線イメージング法の開発

• 研究課題/領域番号: 24K01279
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分28010:ナノ構造化学関連
• 研究機関: 国立研究開発法人物質・材料研究機構
• 研究代表者: 原野 幸治 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 主幹研究員 (70451515)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 17,680千円 (直接経費: 13,600千円、間接経費: 4,080千円); 2026年度: 7,410千円 (直接経費: 5,700千円、間接経費: 1,710千円); 2025年度: 4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円); 2024年度: 5,590千円 (直接経費: 4,300千円、間接経費: 1,290千円)
• キーワード: 電子顕微鏡 / 元素分析 / 単分子観察 / カーボンナノチューブ / 電子線エネルギー損失分光法

研究開始時の研究の概要

「分子試料に対する究極の微量分析法」として，電子線を用いた単一分子の電子エネルギー損失スペクトル(EELS)およびエネルギー分散型X線スペクトル(EDS)の取得技術を確立する．個々の分子一つ一つの電子状態や組成分析を実現することで，超微量分析としての応用だけでなく，複雑な混合物の個々の分子の分析のように夾雑系としての分子システムの解析を精製操作を行うことなしに達成することを目的とする．