研究課題
基盤研究(B)
テラヘルツ~赤外光を用いて物質・材料を分析する技術は有効であるが、波長よりも小さなサイズの対象へ適用することは容易でない。本研究は、光が持つ偏光の性質に着目し、微小な領域で、かつ観測する方向を変えながら計測分析する技術の実現、ならびにその応用を目的とする。