トポロジカル絶縁体表面の実空間ランダウ準位分光

• 研究課題/領域番号: 24K01351
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
• 研究機関: 国立研究開発法人物質・材料研究機構
• 研究代表者: 吉澤 俊介 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 主任研究員 (60583276)
• 研究分担者: 鷺坂 恵介 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 主幹研究員 (70421401)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 18,590千円 (直接経費: 14,300千円、間接経費: 4,290千円); 2026年度: 5,590千円 (直接経費: 4,300千円、間接経費: 1,290千円); 2025年度: 5,590千円 (直接経費: 4,300千円、間接経費: 1,290千円); 2024年度: 7,410千円 (直接経費: 5,700千円、間接経費: 1,710千円)
• キーワード: トポロジカル絶縁体 / ランダウ準位 / 走査型トンネル顕微鏡

研究開始時の研究の概要

2次元電子系が極低温・高磁場下に置かれると、電子のサイクロトロン運動が量子化してランダウ準位が形成される。本研究では、極低温・高磁場走査型トンネル顕微鏡（STM）を駆使して、トポロジカル絶縁体表面の2次元電子状態に由来するランダウ準位を実空間分光観測し、ランダウ準位を構成する波動関数の微視的構造を解明する。