超高感度かつユニバーサルな究極のイオン成分分析システムの開発

• 研究課題/領域番号: 24K01516
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分34020:分析化学関連
• 研究機関: 熊本大学
• 研究代表者: 大平 慎一 熊本大学, 大学院先端科学研究部(理), 教授 (60547826)
• 研究分担者: 森 勝伸 高知大学, 教育研究部総合科学系複合領域科学部門, 教授 (70400786) ; 須郷 由美 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 高崎量子技術基盤研究所 量子バイオ基盤研究部, 上席研究員 (90354836)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 18,460千円 (直接経費: 14,200千円、間接経費: 4,260千円); 2026年度: 4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円); 2025年度: 6,890千円 (直接経費: 5,300千円、間接経費: 1,590千円); 2024年度: 7,410千円 (直接経費: 5,700千円、間接経費: 1,710千円)
• キーワード: 超高感度イオン分析 / 放射性金属 / ユニバーサル検出 / 静電型イオンクロマトグラフィー / 水溶離液

研究開始時の研究の概要

本研究では，超高感度かつユニバーサルなイオン分析を実現するために，高感度分析に適した新しい原理に基づくイオン種の分離法を創成する。また，検出においては，短寿命放射性金属をうまく活用する。これらによって，従来のイオン分析と同等の使い勝手や迅速性を維持いたままpg/Lレベルの検出下限とユニバーサルな応答を実現する。超純水をはじめとする高純度物質に含まれる微量なイオン成分，特に，容易に汚染する成分をとらえることで，半導体や製薬などの産業における原料や材料の品質管理への活用が期待される。