極薄膜超伝導体の複素伝導度測定手法の確立と鉄系超伝導体への応用

• 研究課題/領域番号: 24K06952
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分13030:磁性、超伝導および強相関系関連
• 研究機関: 東京大学
• 研究代表者: 前田 京剛 東京大学, 大学院総合文化研究科, 特任研究員 (70183605)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円); 2026年度: 260千円 (直接経費: 200千円、間接経費: 60千円); 2025年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円); 2024年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
• キーワード: マイクロ波伝導度 / 薄膜超伝導体 / 鉄系超伝導体 / 鉄カルコゲナイド超伝導体

研究開始時の研究の概要

(1)極薄膜超伝導体におけるマイクロ波複素伝導度測定手法を確立させる。
(2)確立させた手法を鉄カルコゲナイド超伝導体に適用し，(a)非原子層オーダー厚さの極薄膜FeSe{1-x}Te{x}の超伝導状態の探求，特に超伝導ギャップ構造が x の関数としてどのように変化するかを明らかにし，それから可能な超伝導発現機構について議論する。(b)複数の界面を持つ多層膜を含む原子層オーダーの厚みの極薄膜試料で実現する界面超伝導現象にこの手法を適用し，何故伝導特性から見たTcと分光学的手法で見たTcに乖離があるのかを明らかにし，可能であれば，ゼロ抵抗のTcを現状よりも上昇させる。