放射光白色X線透過ラウエパターン解析による転位密度評価法の開発

• 研究課題/領域番号: 24K07213
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分18010:材料力学および機械材料関連
• 研究機関: 東京工業大学
• 研究代表者: 宮澤 知孝 東京工業大学, 物質理工学院, 助教 (70648039)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円); 2026年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円); 2025年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円); 2024年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
• キーワード: 放射光X線 / 回折 / 白色X線 / 銅単結晶 / 転位密度

研究開始時の研究の概要

本研究では、輝度が高く、広いエネルギー帯を持つ放射光白色X線を用い、金属試料から得られる透過ラウエパターンを解析することで、転位密度を評価する新手法の開発を目的とする。育成した銅単結晶から圧縮試験片を切り出し、圧縮試験片に種々の塑性変形を加えた状態で透過ラウエパターンの測定を行う。塑性変形量の変化に伴うラウエパターンの回折スポットの変化を系統的に調査し、転位密度の増加とラウエパターンの変化の関係を明らかにする。これにより透過ラウエパターンの変化から転位密度を評価する方法をまとめ、放射光分析の有用性を向上するとともに、金属材料の塑性変形機構の解明を前進させる。