| 研究課題/領域番号 |
24K07498
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
小区分21020:通信工学関連
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| 研究機関 | 長野工業高等専門学校 |
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研究代表者 |
春日 貴志 長野工業高等専門学校, 情報エレクトロニクス系, 教授 (10344772)
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| 研究分担者 |
富岡 雅弘 長野工業高等専門学校, 情報エレクトロニクス系, 講師 (00838683)
林 優一 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)
藤本 大介 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 准教授 (60732336)
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| 研究期間 (年度) |
2024-04-01 – 2027-03-31
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| 研究課題ステータス |
交付 (2024年度)
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| 配分額 *注記 |
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2026年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2025年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2024年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
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| キーワード | USBコネクタ / SI/EMI / 基板の誘電率 / FDTD / CT-Scan |
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| 研究開始時の研究の概要 |
次世代の信号伝送速度100Gbpsが求められ，信号線路やコネクタでは線路構造の不連続が起因して生ずる信号品質（SI）の劣化や電磁ノイズ放射（EMI）が懸念されている．不連続問題は2つあり，機器内を構成する基板材料の損失による不連続性，機器内外を接続するコネクタ構造や接点で生じる不連続性がある．機器内の基板材料は誘電率の周波数分散性や表皮効果といった問題に帰着し，正確に測定した誘電率と基板の内部構造を組み込んだ電磁界解析で信頼性を評価する．また，コネクタをCT-Scanで3Dモデル化して電磁界解析に組み込み，立体的に構造変化する線路や接点でのSIに着目することでその性能を議論することができる．
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