走査式光変調散乱手法によるミリ波帯分布計測システムの開発とテラヘルツ帯への展開

• 研究課題/領域番号: 24K07514
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分21030:計測工学関連
• 研究機関: 秋田県産業技術センター
• 研究代表者: 黒澤 孝裕 秋田県産業技術センター, 電子光応用開発部, 上席研究員 (60370243)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円); 2026年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円); 2025年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円); 2024年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
• キーワード: 電界分布計測 / 変調散乱 / 光変調 / 光走査 / 半導体散乱体

研究開始時の研究の概要

電磁界分布を高感度かつ低擾乱に計測する手法として、半導体散乱体からの散乱波強度を光変調して電界検出する、光変調散乱手法による高周波電界センサを提案してきた。この技術を発展させてミリ波帯電界の振幅位相測定および光走査による分布計測を実現する。また、散乱体形状や物性と信号強度、擾乱の関係を数値計算および実験の両面から明らかにし、さらなる高感度、低擾乱を目指すための散乱体形状や材料物性の設計指針を提案する。これらの結果を基にテラヘルツ帯域へ本技術を展開する。過渡回折格子を利用した変調散乱波増幅手法について数値計算で検討し、高感度・低擾乱な電界計測手法を提案する。