研究課題
基盤研究(C)
本研究では、半導体デバイス実装の要素技術に適した“無電解めっき法”を用いた、“熱膨張制御可能”な低熱膨張性Fe-Ni合金(インバーFe-Ni合金)のメタライズ薄膜生成技術を確立し、次世代パワー半導体の高温信頼性の向上を目指す。具体的な取組課題は、無電解Fe-Ni合金めっき液の溶液化学、無電解析出反応の電気化学、および形成された合金薄膜の機械的・熱的挙動の金属学の解明による、低熱膨張Fe-Ni合金メタライズプロセスに内在する科学の解明、および産業利用可能な内部歪が低く、熱の寸法安定性が高い無電解インバー合金めっき膜を高析出速度で作成可能で、めっき液の経時安定性が高いプロセスの構築である。