周波数コム技術を用いた水素分子の強レーザー場フーリエ分光法

• 研究課題/領域番号: 24K08335
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分32010:基礎物理化学関連
• 研究機関: 東京大学
• 研究代表者: 安藤 俊明 東京大学, 大学院理学系研究科(理学部), 特任准教授 (40771598)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円); 2026年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円); 2025年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円); 2024年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
• キーワード: 強光子場科学 / フェムト秒科学 / フーリエ変換分光 / 振動回転分光 / 周波数コム

研究開始時の研究の概要

水素原子、水素分子イオンなどの少数粒子から構成される系のエネルギー準位を精密に計測し、理論計算と比較することによって、基礎物理定数の決定や量子電磁力学の精密検証がなされてきた。水素分子 (H2, D2)においても量子電磁気学の精密検証・基礎物理定数の決定の提案がなされてきたものの、これまで精密分光を行うことは困難だった。本研究では、申請者らが開発を進めてきた”高強度超短パルスレーザーを用いたフーリエ変換分光法”に周波数コム技術とDUVサブピコ秒パルスを用いたREMPIによる振動状態選別計測法を導入する。これによって、周波数精度とスペクトルのS/N比を飛躍的に向上させ、水素分子の振動分光を行う。