固体界面構造・電子状態観測を可能にするXAFS用高耐圧Auger電子分析器の開発

• 研究課題/領域番号: 24K15591
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分80040:量子ビーム科学関連
• 研究機関: 名古屋大学
• 研究代表者: 小川 智史 名古屋大学, 工学研究科, 助教 (70739101)
• 研究期間 (年度): 2024-04-01 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円); 2026年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円); 2025年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円); 2024年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
• キーワード: 表界面計測 / X線吸収微細構造 / 固体界面

研究開始時の研究の概要

担持触媒や半導体デバイスなど、多くの材料系で表界面物性が極めて重要な役割を果たす一方で、表界面のみを選択的に測定する手法は限られる。その一つにAuger電子収量法（AEY）によるX線吸収微細構造（XAFS）分析がある。AEYは静電半球型アナライザー（CHA）を必要とするが、CHAは光電子分光測定用に高分解能かつ低感度となっており、必ずしもAEY-XAFSには適さない。そこで本研究では、XAFS専用の高感度円筒鏡型アナライザー（CMA）の開発を行う。XAFS測定時に生じる高エネルギーAuger電子を分光可能とした高耐圧CMAを制作し、多くの試料系に適用可能なAEY-XAFS法を確立する。