価電子内殻遷移に伴うＸ線発光を偏光解析した新しい放射光分光法の開発

• 研究課題/領域番号: 24K21814
• 研究種目: 挑戦的研究(萌芽)
• 配分区分: 基金
• 審査区分: 中区分36:無機材料化学、エネルギー関連化学およびその関連分野
• 研究機関: 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
• 研究代表者: 石井 賢司 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 関西光量子科学研究所 放射光科学研究センター, 上席研究員 (40343933)
• 研究期間 (年度): 2024-06-28 – 2027-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 6,370千円 (直接経費: 4,900千円、間接経費: 1,470千円); 2026年度: 520千円 (直接経費: 400千円、間接経費: 120千円); 2025年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円); 2024年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
• キーワード: 放射光 / Ｘ線発光分光

研究開始時の研究の概要

本研究では、フェルミエネルギー近傍にある電子の占有状態およびその対称性を調べることができる放射光硬Ｘ線分光法を開発する。SPring-8において価電子から内殻への遷移に伴うＸ線発光の偏光を解析して分光する方法を確立し、発光の偏光依存性により価電子のもつ対称性を検証する。さらに、同じ測定で偏光により方向を特定した上で、配位した元素の種類の識別も可能であることを実証する。この手法は、価電子帯の光電子分光と同じ電子状態に関する情報を高透過能の硬Ｘ線を利用して計測できるものであり、オペランド計測手法として発展する大きな可能性を有している。