| 研究課題/領域番号 |
24K22955
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| 研究種目 |
研究活動スタート支援
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| 配分区分 | 基金 |
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| 審査区分 |
0302:電気電子工学およびその関連分野
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| 研究機関 | 九州大学 |
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研究代表者 |
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| 研究期間 (年度) |
2024-07-31 – 2026-03-31
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| 研究課題ステータス |
交付 (2024年度)
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| 配分額 *注記 |
2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
2025年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2024年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
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| キーワード | Lifetime Prediction / Avalanche Robustness / Health Monitoring / Power Cycling / Reliability |
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| 研究開始時の研究の概要 |
After reviewing over 100 research journal papers in the field, it was found that chip-induced failures and assembly-induced failures have been individually studied for lifetime prediction. However, no research has been conducted on the perspective of simultaneously addressing multiple failures.
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