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単結晶GaNのナノスケール切削による高精度マイクロレンスアレイの創成

研究課題

研究課題/領域番号 24KF0255
研究種目

特別研究員奨励費

配分区分基金
応募区分外国
審査区分 小区分18020:加工学および生産工学関連
研究機関慶應義塾大学

研究代表者

閻 紀旺  慶應義塾大学, 理工学部(矢上), 教授 (40323042)

研究分担者 HUANG WEIHAI  慶應義塾大学, 理工学部(矢上), 外国人特別研究員
研究期間 (年度) 2024-11-15 – 2027-03-31
研究課題ステータス 交付 (2024年度)
配分額 *注記
2,000千円 (直接経費: 2,000千円)
2026年度: 500千円 (直接経費: 500千円)
2025年度: 1,000千円 (直接経費: 1,000千円)
2024年度: 500千円 (直接経費: 500千円)
研究開始時の研究の概要

GaN is the third-generation semiconductor used in power devices and also has excellent optical properties. This research will elaborate parameters influencing the machining characteristics of GaN during nanoindentation, nanoscale scratching and diamond turning processes.

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公開日: 2024-11-22   更新日: 2025-03-21  

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