放射線による劣化現象TIDを考慮した宇宙向け耐ソフトエラーフリップフロップの開発

• 研究課題/領域番号: 24KJ1550
• 研究種目: 特別研究員奨励費
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 国内
• 審査区分: 小区分60040:計算機システム関連
• 研究機関: 京都工芸繊維大学
• 研究代表者: 中島 隆一 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 特別研究員(DC2)
• 研究期間 (年度): 2024-04-23 – 2026-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2024年度)
• 配分額: 1,300千円 (直接経費: 1,300千円); 2025年度: 600千円 (直接経費: 600千円); 2024年度: 700千円 (直接経費: 700千円)

研究開始時の研究の概要

放射線による劣化現象 TID を考慮した耐ソフトエラーフリップフロップの開発を行う．TEG チップの上にα線源を置き長期間回路を動作させることにより, TID とソフトエラー耐性を測定し, 相関関係を調査する. α線でエラーが発生しにくい耐ソフトエラーFF についてはγ線と重イオンの照射試験により相関関係を調査する.