| 研究課題/領域番号 |
25246027
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 大阪大学 |
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研究代表者 |
菅原 康弘 大阪大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (40206404)
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| 研究分担者 |
李 艶君 大阪大学, 大学院工学研究科, 准教授 (50379137)
内藤 賀公 大阪大学, 大学院工学研究科, 助教 (90362665)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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| 配分額 *注記 |
39,260千円 (直接経費: 30,200千円、間接経費: 9,060千円)
2015年度: 4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2014年度: 15,600千円 (直接経費: 12,000千円、間接経費: 3,600千円)
2013年度: 19,500千円 (直接経費: 15,000千円、間接経費: 4,500千円)
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| キーワード | 走査プローブ顕微鏡 / 走査型プローブ顕微鏡 |
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| 研究成果の概要 |
絶縁体表面上のナノ構造体の電荷状態は、表面欠陥との電荷移動により大きく影響を受ける。実際、絶縁体表面上のナノ構造体の物理・化学的性質は、表面の欠陥構造により劇的に変化する。従って、新しい機能を有するナノ構造体を思い通りに設計するには、絶縁体表面の欠陥とナノ構造体との間の電荷移動を含めた相互作用の理解が本質的に重要である。本研究では、絶縁体表面の欠陥とナノ構造体との間の電荷移動現象を解明するとともに、ナノ構造体の構造と電荷状態との関係を研究した。具体的には、アルミナ表面の線欠陥に構築されたパラジウム原子からなるナノ構造体を取り上げ、ナノ構造体が負に帯電することを解明した。
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