研究課題
基盤研究(B)
表面再構成制御成長法を用いたSi(111)基板上へのInSb薄膜を用いたAl2O3/InSb/Si n-MOSFETの特性向上のため、ゲート電極をオーバーラップ構造としたり、レーザー露光装置の導入とソース・ドレイン電極を2回に分けて形成するなどのプロセスの見直しを行った。また、Si基板上のInSb-CMOS実現に向けたp-MOSFET用のGaSbやInGaSb薄膜の成長技術の蓄積、そしてTFET実現に向けたn-InSb/p-Siヘテロ界面を理解するための電気的特性の評価を行った。
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Phys. Status Solidi B
巻: 254 号: 2
10.1002/pssb.201600528
http://www3.u-toyama.ac.jp/nano/