| 研究課題/領域番号 |
25330063
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 愛媛大学 |
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研究代表者 |
高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
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| 研究分担者 |
樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654)
四柳 浩之 徳島大学, 大学院理工学研究部, 准教授 (90304550)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2015年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2014年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2013年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
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| キーワード | ディペンダブルコンピューティング / 故障検査 / 故障診断 / オープン故障 / タイミング不良 / テスト / 診断 / オンチップセンサー / 抵抗性オープン故障 / ポストシリコンテスト / プリシリコンテスト / 故障診断法 / 診断用テスト / 遅延故障 / 組込み自己テスト / 組込み自己診断 |
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| 研究成果の概要 |
これまでの縮退故障および遷移故障に対する故障検査のみでは，高速システムオンチップの品質を保証することは困難である。本研究では，抵抗性オープン故障に対する高精度診断用テストとして，2パターン―2ペアテストの概念を提案し，その生成法を提案した。また，診断容易化回路として，アナログバンダリスキャンを適用したオンチップセンサを提案した。さらに，被診断回路のパスの順位に基づく故障診断法を提案した。ベンチマーク回路に対する評価実験結果から，従来法に比べて，高精度な診断用テストが生成可能であること，および良好な故障診断分解能が得られることを示した。
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