| 研究課題/領域番号 |
25330068
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 首都大学東京 |
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研究代表者 |
三浦 幸也 首都大学東京, システムデザイン研究科, 教授 (00254152)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2016年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2015年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2014年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
2013年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
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| キーワード | ディペンダブルコンピューティング / ノイズ / 誤動作 / 同期式回路 / フリップフロップ / 高信頼化設計 / ディペンダブルコンピュー ティング / メモリ / 更信頼化設計 |
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| 研究成果の概要 |
本研究課題では，LSIの使用中に使用環境に起因したLSIの誤動作への対策方法と劣化による性能低下の推定方法を開発した．
（１） 電源ノイズによるフリップフロップへの動作を解析し，メモリと同様にビット反転の誤動作が発生することを確認した．またその発生メカニズムを明らかにし，誤動作を防止する回路構成法を開発した．
（２） 2種類のリング発振器を使用したLSIの劣化推定方法を開発した．本方法では，トランジスタレベルから回路レベルまでの劣化の推定が可能になった．
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