| 研究課題/領域番号 |
25390079
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
鈴木 秀士 名古屋大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (30322853)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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| 配分額 *注記 |
5,200千円 (直接経費: 4,000千円、間接経費: 1,200千円)
2015年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2014年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2013年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
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| キーワード | 走査プローブ顕微鏡（SPM） / 非接触原子間力顕微鏡（NC-AFM） / 量子ビーム / 放射光X線 / 表面元素分析 / 力場解析 / 非接触原子間力顕微鏡 / 力成分解析 / 探針-試料間相互作用 / 共有結合 / 内殻電子励起 / X線誘起信号 / 元素マッピング / 走査プローブ顕微鏡 / X線誘起 / 量子干渉 / 化学結合 / X線吸収 |
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| 研究成果の概要 |
絶縁体表面にも適用可能な非接触原子間力顕微鏡と放射光X線を組み合わせたナノスケール元素分析・化学状態分析法、X線支援非接触原子間力顕微鏡（X-ray Aided Noncontact Atomic force microscopy, XANAM）の開発を行った。これは探針-試料間の相互作用を試料原子の内殻電子励起が可能なX線で人為的に変化させることで、探針直下の元素種の同定や化学状態識別を可能とする手法である。本課題により相互作用測定の精密化と解析方法を確立した。また元素選別イメージング像の取得の足がかりとなるデータ取得に成功した。
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