研究課題/領域番号 |
25420008
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
機械材料・材料力学
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研究機関 | 東京大学 |
研究代表者 |
藤本 浩司 東京大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (40182993)
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連携研究者 |
上西 幸司 東京大学, 大学院工学系研究科, 准教授 (60311776)
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研究協力者 |
小林 明
関根 政直
橋本 那音
佐々木 夏生
山下 陽平
山内 洋平
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研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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配分額 *注記 |
5,200千円 (直接経費: 4,000千円、間接経費: 1,200千円)
2015年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2014年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
2013年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
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キーワード | 皮膜 / コーティング / テクスチャリング / き裂 / 剥離 / 応力解析 / 材料強度 / 界面 / テクスチャ / 応力 / 応力拡大係数 / き裂(割れ) / 粗面化 |
研究成果の概要 |
近年、表面改質の一手法として、皮膜を施すことが多いが、割れや剥離が問題となる。一般に、皮膜の密着強度を高めるためには基材表面に粗面化やテクスチャリングを施すことが多いが、基材表面の幾何学的形状は皮膜に発生する応力に影響し、皮膜の割れや剥離の挙動に影響を与えることが予想される。本研究では、幾通りかの粗面化ないしはテクスチャを施した基材表面にジルコニア皮膜を施した試験片の引張試験を行い、皮膜の断面におけるき裂長さを定量的に測定することにより、皮膜に蓄えられるひずみエネルギーと相関があることが確認できた。また、連続分布転位法により、界面が規則正しくうねっている場合の高精度の応力解析の手法を確立した。
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