| 研究課題/領域番号 |
25420245
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
電力工学・電力変換・電気機器
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
渡邊 正人 東京工業大学, 総合理工学研究科(研究院), 助教 (20251663)
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| 研究分担者 |
堀田 栄喜 東京工業大学, 大学院総合理工学研究科, 教授 (70114890)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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| 配分額 *注記 |
5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円)
2015年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2014年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
2013年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
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| キーワード | 電子ビーム / イオン衝撃 / 滅菌 / プラズマ / 二次電子銃 / プラズマ応用 |
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| 研究成果の概要 |
本研究では，パルス電子ビームによる滅菌技術の確立を目指した。まず，イオン衝撃二次電子銃を構築し，発生する電子ビームの各種特性を調べた。特に，照射に伴う吸収線量の絶対値を計測できるシステムを構築した。次に，滅菌実験により，電子ビームの照射周波数を増加させると殺菌効果は向上し，処理時間を大幅に短縮できることを明らかにした。また，電子ビーム照射により生成されるラジカルが，殺菌効果の向上に寄与していることを明らかにした。さらに，細菌表面の観察により，電子ビーム照射による芽胞のコアの損傷が，菌の死滅の原因であることがわかった。以上の結果より，電子ビーム照射が滅菌の有効な手法であることを示した。
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