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秘密情報の秘匿性と製造検査容易性の両立をはかるLSI設計手法の研究

研究課題

研究課題/領域番号 25540020
研究種目

挑戦的萌芽研究

配分区分基金
研究分野 計算機システム
研究機関京都産業大学 (2014)
九州大学 (2013)

研究代表者

吉村 正義  京都産業大学, コンピュータ理工学部, 准教授 (90452820)

研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2015-03-31
研究課題ステータス 完了 (2014年度)
配分額 *注記
3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円)
2014年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2013年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
キーワード安全 / 信頼性 / LSI設計技術 / 暗号LSI / 製造テスト / テストパタン生成 / テスト容易化設計 / 秘密情報 / スキャン設計 / 製造検査容易性 / 動作合成 / 設計手法 / LSI / 製造検査 / 情報漏洩 / 情報量
研究成果の概要

本研究は、LSIの設計情報が漏洩したとしても、秘密情報が搭載されたLSIに対して、LSIの内部に格納された秘密情報を秘匿しつつ、LSIの内部に製造時に故障が発生していないかを容易に検査できる設計技術を開発することである。従来、LSIの設計を工夫し、その設計情報を秘匿することで、安全性は保たれていた。しかしLSI の設計情報はLSIの設計に携わる多数の人が知りうる情報であり、完全な秘匿は困難である。そこで本研究はLSI の設計情報に依存せずに安全性を保つ設計手法および設計支援技術を開発した。秘密情報の漏洩度合いを相互情報量によって評価し、提案手法の安全性を定量的に示した。

報告書

(3件)
  • 2014 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2013 実施状況報告書
  • 研究成果

    (9件)

すべて 2015 2014 2013

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (7件)

  • [雑誌論文] A Test Compaction Oriented Don't Care Identification Method Based on X-bit Distribution2013

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yamazaki, Motohiro Wakazono, Toshinori Hosokawa, and Masayoshi Yoshimura
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E96.D 号: 9 ページ: 1994-2002

    • DOI

      10.1587/transinf.E96.D.1994

    • NAID

      130003370988

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Efficient Fault Simulation Algorithms for Analyzing Soft Error Propagation in Sequential Circuits2013

    • 著者名/発表者名
      Taiga Takata, Masayoshi Yoshimura, and Yusuke Matsunaga
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

      巻: 6 号: 0 ページ: 127-134

    • DOI

      10.2197/ipsjtsldm.6.127

    • NAID

      130003369396

    • ISSN
      1882-6687
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation2015

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yamazaki, Jun Nishimaki, Toshinori Hosokawa and Masayoshi Yoshimura
    • 学会等名
      Designing with Uncertainty - Opportunities & Challenges
    • 発表場所
      Grenoble, France
    • 年月日
      2015-03-13
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法2015

    • 著者名/発表者名
      吉村 正義, 西間木 淳, 細川 利典
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館,東京
    • 年月日
      2015-02-12
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法2014

    • 著者名/発表者名
      高橋慶安・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      東京・機械振興会館
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
  • [学会発表] BASTにおけるシフトデータ量削減法2014

    • 著者名/発表者名
      田中まりか・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・新井雅之(日大)
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      東京・機械振興会館
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
  • [学会発表] マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法2014

    • 著者名/発表者名
      山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・山崎浩二(明大)
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      東京・機械振興会館
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
  • [学会発表] BASTにおけるテストデータ量削減のためのインバータブロック構成法2013

    • 著者名/発表者名
      田中まりか・山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大)・新井雅之(日大)・中尾教伸(読売理工医療福祉専門学校)
    • 学会等名
      デザインガイア2013
    • 発表場所
      鹿児島県文化センター
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書
  • [学会発表] A Smart Trojan Circuit and Smart Attack Method in AES Encryption Circuits2013

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Yoshimura, Amy Ogita and Toshinori Hosokawa
    • 学会等名
      16th IEEE Symp. Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
    • 発表場所
      New York City, NY, USA
    • 関連する報告書
      2013 実施状況報告書

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公開日: 2014-07-25   更新日: 2019-07-29  

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