| 研究課題/領域番号 |
25790055
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 金沢大学 |
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研究代表者 |
岡林 則夫 金沢大学, 数物科学系, 助教 (90387853)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2014年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2013年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
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| キーワード | 非弾性電子トンネル分光 / 走査トンネル顕微鏡 / 原子間力顕微鏡 / 走査型トンネル顕微鏡 / 非接触原子間力顕微鏡 / 国際研究者交流 / ドイツ |
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| 研究成果の概要 |
非弾性電子トンネル分光（Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy: IETS）を用いた単分子膜におけるトンネル電流の経路解明にむけて、IETSにおける探針先端の形状の影響を、走査トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡を組み合わせて調べた。探針先端の原子数が一個の場合、探針先端の原子数が三個の場合に比べて、Cu表面上のCO分子に対するIETSの強度が４倍程度大きくなることを見出した。この結果を、（a）全トンネル電流に対する分子を介したトンネル電流の割合、ならびに（b）分子を介したトンネル電流における非弾性トンネル過程の能率という二つの観点から解釈した。
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