| 研究課題/領域番号 |
25790059
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 独立行政法人日本原子力研究開発機構 |
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研究代表者 |
本田 充紀 独立行政法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 量子ビーム応用研究センター, 任期付研究員 (10435597)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2015-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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| 配分額 *注記 |
4,290千円 (直接経費: 3,300千円、間接経費: 990千円)
2014年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
2013年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
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| キーワード | オペランド観測 / 蛍光XAFS / 軽元素 / 軟X線放射光 / オペランド条件 / 軟Ｘ線放射光 / 電子構造 |
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| 研究成果の概要 |
固体表面における分子の吸着構造に関する研究は、太陽電池や触媒反応、または環境試料の分析を目指した吸着材開発などで興味を持たれている。酸化還元反応や電子移動などを伴う実デバイス環境下での固液界面構造解析には、Ｘ線吸収分光法が有力な手法のひとつである。しかし有機分子は軽元素から成るために、吸収端のエネルギーが軟X線領域であり、大気中、溶液中などでX線が吸収されてしまう。今回我々は、蛍光収量法によるオペランド条件下XAFS測定システムを開発し、溶液環境下で局所電子構造解析に応用し、非常に有効的な結果を見出した。本システムは真空での扱いが難しい試料や溶液下で機能を発現する物質への適応が可能である。
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