研究課題/領域番号 |
25790082
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研究種目 |
若手研究(B)
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配分区分 | 基金 |
研究分野 |
量子ビーム科学
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研究機関 | 独立行政法人理化学研究所 (2014) 九州大学 (2013) |
研究代表者 |
星野 大樹 独立行政法人理化学研究所, 放射光科学総合研究センター, 研究員 (20569173)
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研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2015-03-31
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研究課題ステータス |
完了 (2014年度)
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配分額 *注記 |
4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2014年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2013年度: 2,990千円 (直接経費: 2,300千円、間接経費: 690千円)
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キーワード | X線光子相関分光 / 高分子薄膜 / ダイナミクス / コヒーレントX線 |
研究成果の概要 |
X線光子相関分光により高分子薄膜の表面ダイナミクスを計測し、低次元系である薄膜特有の物性と表面揺らぎの相関について議論した。特に臨界現象と関わりの深い現象であるdewetting挙動との関連を調べるために、dewetting抑制効果があるケイ素を含んだ高分子薄膜の表面ダイナミクスの計測に取り組んだ。表面の揺らぎが大きく抑制されていることを見出し、ケイ素の深さ方向分布データと合わせて議論することで、薄膜の表面物性が大きく変化していることを見出した。
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