研究課題
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本研究では微少な半導体素子中にスピン流を生成し、それに伴う電流ゆらぎの検出に成功した。ここで実現された検出手法はスピン流の非平衡状態(熱の発生など)に関する新たな情報を与えるため、今後のスピントロニクスの発展に寄与すると期待される。さらに、本研究では極めて高精度な電流ゆらぎ測定技術を駆使して、スピン流の生成に伴う電子系の温度上昇を実測した。
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すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 4件、 オープンアクセス 3件、 謝辞記載あり 1件) 学会発表 (34件) (うち招待講演 2件) 備考 (2件)
Phys. Rev. Lett.
巻: 114 号: 1
10.1103/physrevlett.114.016601
Physical Review B
巻: 89 号: 23
10.1103/physrevb.89.235318
Applied Physics Letters
巻: 105 号: 4
10.1063/1.4891556
巻: 103 号: 17
10.1063/1.4826681
http://meso.phys.sci.osaka-u.ac.jp/spin_shot_noise.html
http://resou.osaka-u.ac.jp/ja/research/2015/20150122_1