研究課題/領域番号 |
25H00839
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研究種目 |
基盤研究(A)
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配分区分 | 補助金 |
応募区分 | 一般 |
審査区分 |
中区分29:応用物理物性およびその関連分野
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研究機関 | 東京大学 |
研究代表者 |
長谷川 幸雄 東京大学, 物性研究所, 教授 (80252493)
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研究分担者 |
井手上 敏也 東京大学, 物性研究所, 准教授 (90757014)
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研究期間 (年度) |
2025-04-01 – 2028-03-31
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研究課題ステータス |
交付 (2025年度)
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配分額 *注記 |
46,670千円 (直接経費: 35,900千円、間接経費: 10,770千円)
2025年度: 16,900千円 (直接経費: 13,000千円、間接経費: 3,900千円)
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キーワード | 走査トンネル顕微鏡 / ポテンショメトリ / スピン偏極 / 原子層薄膜 |
研究開始時の研究の概要 |
これまで開発してきた試料に電流を流しながら動作可能な低温磁場下走査トンネル顕微鏡(STM)装置を駆使し、原子層二次元薄膜上での電子やスピンの流れに由来するナノ領域での現象を実空間で計測することを目指します。 この研究により、原子層物質の超伝導や量子-・異常-・スピン-ホール効果、スピン(偏極)電流およびスピン緩和やそれらに絡む熱発生など、これまでのSTM研究ではアクセスできなかった輸送現象をナノスケール空間分解能で視覚化し、マクロな手法では得られない物性評価を可能にします。
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