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X線格子顕微鏡を用いた高解像度・極低ノイズの三次元イメージング

研究課題

研究課題/領域番号 25K03400
研究種目

基盤研究(B)

配分区分基金
応募区分一般
審査区分 小区分80040:量子ビーム科学関連
研究機関国立研究開発法人理化学研究所

研究代表者

香村 芳樹  国立研究開発法人理化学研究所, 放射光科学研究センター, チームリーダー (30270599)

研究分担者 横田 秀夫  国立研究開発法人理化学研究所, 光量子工学研究センター, チームリーダー (00261206)
曽我 公平  東京理科大学, 先進工学部機能デザイン工学科, 教授 (50272399)
研究期間 (年度) 2025-04-01 – 2028-03-31
研究課題ステータス 交付 (2025年度)
配分額 *注記
17,420千円 (直接経費: 13,400千円、間接経費: 4,020千円)
2027年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
2026年度: 3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円)
2025年度: 11,700千円 (直接経費: 9,000千円、間接経費: 2,700千円)
キーワード三次元イメージング / X線ライトシート顕微鏡 / 微粒子局在解析 / X線回折格子 / タルボー効果
研究開始時の研究の概要

本研究では、X線ライトシートによる垂直方向の薄い幅方向への照射X線の局在と、直交方向に周期的に与える微分強度の局在の二軸方向での局在解析と試料の90度回転とを併用することで、1600個/um3以上の高密度の微粒子の試料内でのサブ5nmの三次元超解像性能を達成できることを示す。さらに検出蛍光の散乱損失を抑えるために、散乱の少ない短波長近赤外光(SWIR)の利用によって臓器深部のnmオーダー分解能で広視野かつ高コントラストな微粒子三次元分布計測手法を実現する。

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公開日: 2025-04-17   更新日: 2025-06-20  

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