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冷却陽電子ビームによる超高分解能陽電子顕微鏡の開発

研究課題

研究課題/領域番号 25K03405
研究種目

基盤研究(B)

配分区分基金
応募区分一般
審査区分 小区分80040:量子ビーム科学関連
研究機関国立研究開発法人産業技術総合研究所

研究代表者

満汐 孝治  国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 研究グループ長 (10710840)

研究期間 (年度) 2025-04-01 – 2029-03-31
研究課題ステータス 交付 (2025年度)
配分額 *注記
17,810千円 (直接経費: 13,700千円、間接経費: 4,110千円)
2028年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2027年度: 1,170千円 (直接経費: 900千円、間接経費: 270千円)
2026年度: 7,020千円 (直接経費: 5,400千円、間接経費: 1,620千円)
2025年度: 8,840千円 (直接経費: 6,800千円、間接経費: 2,040千円)
キーワード走査型陽電子顕微鏡 / 粒子蓄積冷却法 / 陽電子消滅法 / 格子欠陥 / イメージング
研究開始時の研究の概要

走査型陽電子顕微鏡(陽電子プローブマイクロアナライザー)は、原子スケールの欠陥や空隙の分布を可視化するユニークな量子プローブ顕微法である。しかし、稀少性の高い陽電子を集束ビーム化し、実用レベルの顕微測定を行うことは難しく、応用範囲や測定分解能が大きく制限されている。本研究では、陽電子の高効率な蓄積冷却技術に基づく新たな集束手法を開発し、陽電子サブマイクロビームの実現を目指す。これにより、実用性の高い高分解能陽電子顕微鏡の開発を推進する。

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公開日: 2025-04-17   更新日: 2025-06-20  

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