研究課題
基盤研究(C)
物質の第四状態であるプラズマを対象物に当てることで、イオンによる熱的作用や電子による化学的作用など様々な有益な効果が発生することが知られている。プラズマを構成するイオンが高温か低温かによりプラズマの状態は変化するが、既存のプラズマ温度の計測方法ではプラズマの状態によって利用が制限される。現在のところ、特定の実験環境やプラズマの状態に依存せず、プラズマのイオン温度を計測する方法が未だ確立されていない。そこで本研究では、申請者が提案する解析方法を基に、イオン温度を計測する新たな方法を開発することを目的とする。