電子顕微鏡における試料ダメージ低減法の研究

• 研究課題/領域番号: 25K07783
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分21030:計測工学関連
• 研究機関: 秋田県立大学
• 研究代表者: 岡本 洋 秋田県立大学, システム科学技術学部, 教授 (70455799)
• 研究期間 (年度): 2025-04-01 – 2029-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2025年度)
• 配分額: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円); 2028年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円); 2027年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円); 2026年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円); 2025年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
• キーワード: 量子電子顕微鏡 / 超伝導デバイス / 生体イメージング / 量子計算

研究開始時の研究の概要

現在の透過型電子顕微鏡の分解能は、材料中の原子が一つ一つ見えるレベルに達している。しかし、凍結生物試料の場合は、試料が電子ビームによって簡単に損傷するために十分な分解能が得られない。
我々は充分に少ない電子で電子顕微鏡イメージを得るために「量子技術」を使うことを提唱している。そのためには量子計算機で使われる「超伝導量子ビット」を電子顕微鏡内で使う。
この新しい電子顕微鏡を実現するための理論の整備しながら、並行して予備的な実験を本事業で行う。