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N極性窒化物半導体成長技術を用いた高速サブバンド間遷移不揮発性メモリの高性能化

研究課題

研究課題/領域番号 25K07872
研究種目

基盤研究(C)

配分区分基金
応募区分一般
審査区分 小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
研究機関国立研究開発法人産業技術総合研究所

研究代表者

永瀬 成範  国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員 (80399500)

研究期間 (年度) 2025-04-01 – 2028-03-31
研究課題ステータス 交付 (2025年度)
配分額 *注記
4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円)
2027年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2026年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2025年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
キーワード窒化物半導体 / 量子井戸 / トンネル現象 / サブバンド間遷移 / 超高速情報処理
研究開始時の研究の概要

窒化ガリウム系共鳴トンネルダイオードでのフェムト秒オーダーの共鳴トンネル及びサブバンド間遷移現象を用いることで、SRAM(最高速の揮発性メモリ)と同等な高速性を持つ不揮発性メモリの実現を期待できる。これまでに、高速パルスを用いたスイッチング特性評価などから、メモリ動作原理の実証に成功している。しかし、このメモリの実現のためには、メモリの書き換え耐性の改善と微細化が不可欠である。本研究課題では、N極性窒化物半導体成長技術によるメモリ書き換え耐性の改善とメモリ微細化による低消費電力化を実現することを目標とする。これより、低消費電力で超高速動作が可能な不揮発性メモリの実現を目指す。

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公開日: 2025-04-17   更新日: 2025-06-20  

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