電子線照射された人工衛星用誘電体材料の表面電位に与える試料温度変動の影響

• 研究課題/領域番号: 25K08127
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 小区分24010:航空宇宙工学関連
• 研究機関: 東京都市大学
• 研究代表者: 渡邉 力夫 東京都市大学, 理工学部, 准教授 (20308026)
• 研究期間 (年度): 2025-04-01 – 2028-03-31
• 研究課題ステータス: 交付 (2025年度)
• 配分額: 4,680千円 (直接経費: 3,600千円、間接経費: 1,080千円); 2027年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円); 2026年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円); 2025年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
• キーワード: 人工衛星帯電 / 温度変動 / 表面電位

研究開始時の研究の概要

人工衛星に使用される誘電体試料は電子線等の荷電粒子線により帯電する．過度な帯電は放電現象を引き起こし，人工衛星不具合の主要な原因となる．これを解決するためには，電子線を照射した誘電体試料の表面電位について，電子線照射エネルギーや試料温度による影響を明らかにする必要がある．本研究では，極低温冷凍機とヒーターを温度調整器により制御し，温度変動が誘電体表面電位に与える影響を明らかにする．